Mikroskop sił atomowych / Atomic Force Microscope (AFM)

Rozpoczęcie prac z mikroskopem możliwe WYŁĄCZNIE w obecności Opiekuna

1. Idea mikroskopii sił atomowych (AFM)
2. Budowa mikroskopu AFM – charakterystyka elementów
   1. dźwignia (belka) AFM
   2. laser
   3. detektor PSD
   4. zespół piezoelektrycznych kontrolerów położenia
      1. tryby pracy tzw. open-loop oraz closed-loop
   5. przetwornik analogowo-cyfrowy
3. Podstawy działania mikroskopu AFM
   1. potencjał Lenarda-Jonesa
   2. oscylator harmoniczny
      1. swobodny
      2. wymuszony
      3. wymuszony z tłumieniem
   3. regulator PID
4. Tryby pracy mikroskopu AFM (wady i zalety)
   1. kontaktowy (contact mode)
   2. bezkontaktowy (non-contact mode)
   3. kontaktowy przerywany (tapping mode)
5. Mikroskop AFM typu Shear-Force
6. Interpretacja danych pomiarowych
   1. Kalibracja mikroskopu AFM
   2. Wpływ szerokości igły na dokładność pomiaru
7. Proszę zapoznać się z instrukcją obsługi mikroskopu EDU-AFM1/M firmy Thorlabs [link]

Rozpoczęcie prac z mikroskopem możliwe WYŁĄCZNIE w obecności Opiekuna